Исследование профильных кривых поверхностей

В настоящее время с появлением электронно-вычислительных машин, решение задачи хотя и упрощается, но из-за сложности эксплуатации такими машинами не рационально пользоваться для вычислений характеристик поверхностей, которые, оказывается, можно определить более простыми методами.

Более полную характеристику поверхности, включая и область волнистости, можно получить, если обратиться к частотным характеристикам. Для исследования профильных кривых поверхностей был применен следующий метод: профилограмму вычерчивали в виде масок, как это показано. Копию маски, полученную на позитивной пленке шириной 35 мм и длиной около 270 мм, накладывали на барабан так, чтобы по окружности укладывалось целое число основных периодов.

Свет от источника (лампа накаливания 6 в, 15 Вт) направляется конденсором в объектив, который проектирует узкую горизонтальную щель в плоскость маски, приведенной во вращение синхронным мотором. Барабан делает около 10 об/сек. С помощью призмы свет далее направляется на ФЭУ, питаемый от блока S. Переменное напряжение ФЭУ анализировали с помощью прибора б (типа АСЧХ-1) и электронного осциллографа (типа ЭО-7).

На экране прибора типа АСЧХ-1 можно видеть спектр частот, соответствующий спектральному распределению неровностей, изображенных на профилограмме. В качестве примера приведены спектрограммы для типичных поверхностей, сфотографированные с экрана прибора. Под спектрограммами дана шкала частот электрических колебаний в герцах и частот неровностей. Для различных видов профилограмм можно отметить характерные «линии», обозначенные стрелками. Например, для процесса точения отмечены две характерные «линии» частот 2 и 6 мм; для процесса фрезерования – две линии: частота 2 мм и частота 4 мм, а также слабую линию в области 11 мм.