Приборы, основанные на измерении коэффициентов отражения света

Фотоэлектрический метод измерения коэффициента отражения или его изменений дает возможность сделать прибор объективным и весьма чувствительным и контролировать степень шероховатости стеклянных поверхностей. Учитывать все эти явления чрезвычайно сложно, а различное распределение неровностей на поверхности еще более осложняет задачу. Поэтому приборы, основанные на измерении коэффициентов отражения света, являются относительными приборами и требуют градуировки по образцам, степень шероховатости которых должна быть измерена другими методами. Являясь весьма чувствительными, относительные приборы могут гарантировать единообразие и воспроизводимость измерений для некоторых видов неровностей и для определенного технологического процесса.

В связи с этим такие приборы применяют при контролировании шероховатых поверхностей определенных типов. Следует заметить, что, как и всякие интегральные приборы, относительные приборы требуют значительных площадей исследуемых поверхностей и не учитывают наличия или отсутствия других видов неровностей, например, волнистости. А так как реальные поверхности имеют большей частью широкий «спектр» неровностей, то этот метод, как и визуальный, для которого характерны аналогичные ограничения, невысок по точности.

Неровности, чередующиеся на поверхности, особенно регулярные неровности, т. е. чередующиеся через определенные интервалы, могут быть рассмотрены как сложная дифракционная решетка. При этом свет от такой поверхности будет отражаться по законам, справедливым для дифракционных решеток. Но явление отражения света в данном случае осложнено тем, что регулярность расположения неровностей весьма относительна, а также тем, что изменения фазы и разность фаз пучков, отраженных от каждой неровности, являются функцией глубины впадин и высоты выступов.