Преимущество метода стереоскопической проекции

Для измерения необходима система, с помощью которой можно сравнивать параллактические углы для различных высот неровностей с определенно заданными значениями углов. Заданным значением угла может служить марка или отметка, располагаемая по оптической оси двух оптических систем микроскопов, расстояние между которыми можно изменять в известных пределах.

Изображение марки, видимое в поле зрения, в этом случае как бы перемещается по глубине (высоте) относительно видимых неровностей. Вид поля зрения в бинокулярный микроскоп, если смотреть в него на систему неровностей на поверхности, представляет собой рельефную поверхность совокупности впадин и выступов. При этом заметно положение более высоких мест расположения впадин.

Для марки, находящейся в поле зрения, при перемещении вдоль линии базы соответственно создаются различные параллактические углы – в зависимости от величины перемещения и углового увеличения окуляра. Марку будет видно стереоскопически; при определенном удалении можно изменением параллактического угла марки совместить ее изображение в любой части поля зрения с какой-либо точкой на поверхности. Исследование мелких деталей в часовом производстве с применением таких схем описано в статье В. И. Саркина.

Некоторым преимуществом метода стереоскопической проекции является также возможность выбрать неровности, находящиеся на более значительных по площади участках поверхности – в результате усредняются определения по некоторой площади, что безусловно увеличивает достоверность измерений. Ведь при использовании любого из локальных методов исследования (например, светового сечения) некоторые закономерно встречающиеся неровности могут остаться незамеченными, так как они не попадут в сечение, выбранное в соответствии с возможностями прибора.