Растровый микроскоп

Наложение одного такого снимка на другой при совмещении контуров изображений объекта создает условия, при которых светлые места негатива перекрываются темными местами позитива, и тогда на общем фоне значительного почернения выделяются лишь узкие места контура изображения, соответствующие равным плотностям почернения.

Для усиления эффекта фотографируют совмещенные снимки получают достаточно контрастную картину узких линий равных плотностей почернения, определяемых контуром самого объекта. Для выявления еще больших подробностей, не замеченных ранее; повторяют операцию получения эквиденситометрических кривых с уже полученных узких линий равных плотностей почернения, при этом эффект удваивается. Длительный и трудоемкий процесс фотографической эквиденситометрии можно заменить электронной эквиденситометрией.

В этом случае изображение объекта создается; с помощью телевизионного приемно-передающего устройства, а эффект эквиденситометрии – с помощью специального электронного устройства, дифференцирующего сигналы изображения.

Этот метод заключается в том, что если на исследуемую поверхность наложить стеклянную пластину с нанесенными штрихами, расположенными на близком расстоянии друг от друга, то при наклонном падении лучей отраженная картина растровой сетки накладывается на штрихи самой сетки и картина переналожения этих штрихов видна в виде муарового рисунка. По искажению муаровых полос можно судить об отклонении поверхности от плоскости или другой геометрической формы.

Применение растров для исследования отклонений от правильной геометрической формы известно давно. А. Л. Курицкий в своей диссертации исследовал применение растров для изучения отклонений от правильной геометрической формы шлифованных стеклянных поверхностей.