Метод Бернавского

Соотношение между измеряемыми величинами и высотами неровностей при теневой проекции остаются теми же, что и для светового сечения, и определяются углом падения лучей и увеличением наблюдательной системы. Приведена схема получения геометрической тени от штрихов сетки, накладываемой на поверхность. При наклонном падении пучка света на сетку по направлению, указанному стрелками, тени от отдельных ее штрихов располагаются на выступах (сплошная линия) и на впадинах неровностей (пунктирная линия). По расстояниям и т. д. между положением тени сетки на выступах и впадинах можно определить высоту и характер неровностей на различных участках исследуемой поверхности.

Дальнейшим усовершенствованием и видоизменением метода Бернавского является способ, предложенный Боднаром и описанный в работе. Сетка не накладывается непосредственно на поверхность, а проектируется специальной оптической системой. В отличие от предыдущего, в этом способе совершенно отсутствует контакт сетки с поверхностью. Метод осуществлен по схеме. Сетку, освещенную источником через конденсор, с помощью объектива проектируют в плоскость исследуемой поверхности.

Как уже указывалось, ввиду того что методы светового сечения и теневой проекции, в том числе и усовершенствованные, предусматривают обязательное сечение в плоскости, расположенной под некоторым углом к поверхности (иногда применяют значительные углы наклона проектирующего пучка), профиль получается искаженным, и отдельные его точки относятся к разным участкам поверхности. Этими методами можно, строго говоря, исследовать лишь поверхности с направленным расположением неровностей.

Искаженное вследствие наличия неровностей изображение сетки рассматривают через окуляр микроскопа.