Частотные характеристики шероховатости

Вероятно, чем более низкие частоты неровностей пропускает прибор при малых значениях, тем большее количество информации он доставляет о структуре поверхности. Из этого следует, что наименьшее значение произведения свойственно электронному микроскопу и многолучевому интерференционному микроскопу, а также и методу теневой молекулярной проекции профиля. Такую характеристику, однако, не следует считать полной, так как она не включает данных об охватываемой площади поверхности, которая может быть изучена за один прием при условии использования максимальной разрешающей способности метода. Поэтому приведены пределы частот появления неровностей, которые могут быть отмечены данным методом или прибором.

Таким образом, за меру «качества» метода мог бы быть принят критерий, определяемый коэффициентом и равный отношению, где наиболее низкая частота неровностей, регистрируемая прибором. Интересно отметить, что с этой точки зрения на первое место выдвигаются приборы, основанные на методе многолучевой интерференции, для которого 550-106, затем следуют профилометры или профилографы (250-106). Для остальных приборов коэффициент получают еще меньшим. При вычислении С значения соответствовали линейному полю зрения для объективов максимальной апертуры.

Если рассматривать, как это сделано в начале главы, общую картину распределения неровностей на поверхности с учетом частоты? их появления (мм), то это распределение частот для всех видов неровностей даст широкий спектр. При сравнении (если использовать аналогию) такого «спектра» частот появления неровностей и спектра светового излучения видно, что первый имеет значительно более широкие границы, чем видимое излучение; диапазон частот неровностей соответствует диапазону излучения от далекого ультрафиолетового и вплоть до радиочастот.